顯微鏡設計

1. 怎麼畫顯微鏡設計圖

CAD畫

2. 顯微鏡是誰發明的

發明者是亞斯·詹森,荷蘭眼鏡商，或者另一位荷蘭科學家漢斯·利珀希。亞斯·詹森與荷蘭科學家漢斯·利珀希各自獨立發明了顯微鏡。

最早的顯微鏡是16世紀末期在荷蘭製造出來的。發明者是亞斯·詹森,荷蘭眼鏡商，或者另一位荷蘭科學家漢斯·利珀希，他們用兩片透鏡製作了簡易的顯微鏡，但並沒有用這些儀器做過任何重要的觀察。

亞斯·詹森是它是用一個凹鏡和一個凸鏡做成的，製作水平還很低。詹森雖然是發明顯微鏡的第一人，卻並沒有發現顯微鏡的真正價值。也許正是因為這個原因，詹森的發明並沒有引起世人的重視。

(2)顯微鏡設計擴展閱讀：

顯微鏡發展歷史：

1611年，Kepler(克卜勒)：提議復合式顯微鏡的製作方式。

1876年，Abbe(阿比)：剖析影像在顯微鏡中成像時所產生的繞射作用，試圖設計出最理想的顯微鏡。

1930年，Lebedeff(萊比戴衛)：設計並搭配第一架干涉顯微鏡。另外由Zernicke(卓尼柯)在1932年發明出相位差顯微鏡，兩人將傳統光學顯微鏡延伸發展出來的相位差觀察使生物學家得以觀察染色活細胞上的種種細節。

1981年，Allen and Inoue(艾倫及艾紐)：將光學顯微原理上的影像增強對比，發展趨於完美境界。

1988年，Confocal(共軛焦)掃描顯微鏡在市場上被廣為使用。

3. 顯微鏡設計時一般要求那些參數

應該是放大倍率 工作距離 焦距 相對照度 解像實力 數值孔徑

4. 關於顯微鏡的光學設計習題

一般來說，集成電路在研製、生產和使用過程中失效不可避免，隨著人們對產品質量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要，通過晶元失效分析，可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數的不匹配或設計與操作中的不當等問題。失效分析的意義主要表現具體來說，失效分析的意義主要表現在以下幾個方面： 失效分析是確定晶元失效機理的必要手段。 失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。 失效分析為設計工程師不斷改進或者修復晶元的設計，使之與設計規范更加吻合提供必要的反饋信息。 失效分析可以評估不同測試向量的有效性，為生產測試提供必要的補充，為驗證測試流程優化提供必要的信息基礎。失效分析主要步驟和內容晶元開封：去除IC封膠，同時保持晶元功能的完整無損，保持 die，bond pads，bond wires乃至lead-frame不受損傷，為下一步晶元失效分析實驗做准備。SEM 掃描電鏡/EDX成分分析：包括材料結構分析/缺陷觀察、元素組成常規微區分析、精確測量元器件尺寸等等。探針測試：以微探針快捷方便地獲取IC內部電信號。鐳射切割：以微激光束切斷線路或晶元上層特定區域。EMMI偵測：EMMI微光顯微鏡是一種效率極高的失效分錯析工具，提供高靈敏度非破壞性的故障定位方式，可偵測和定位非常微弱的發光（可見光及近紅外光），由此捕捉各種元件缺陷或異常所產生的漏電流可見光。OBIRCH應用（鐳射光束誘發阻抗值變化測試）：OBIRCH常用於晶元內部高阻抗及低阻抗分析，線路漏電路徑分析。利用OBIRCH方法，可以有效地對電路中缺陷定位，如線條中的空洞、通孔下的空洞。通孔底部高阻區等，也能有效的檢測短路或漏電,是發光顯微技術的有力補充。
LG液晶熱點偵測：利用液晶感測到IC漏電處分子排列重組，在顯微鏡下呈現出不同於其它區域的斑狀影像，找尋在實際分析中困擾設計人員的漏電區域（超過10mA之故障點）。
定點/非定點晶元研磨：移除植於液晶驅動晶元 Pad上的金凸塊， 保持Pad完好無損，以利後續分析或rebonding。
X-Ray 無損偵測：檢測IC封裝中的各種缺陷如層剝離、爆裂、空洞以及打線的完整性，PCB製程中可能存在的缺陷如對齊不良或橋接，開路、短路或不正常連接的缺陷，封裝中的錫球完整性。

5. 如何將望遠鏡設計成顯微鏡

汗一個。先要設計個望遠鏡，然後再改成顯微鏡- -

簡單的說，顯微鏡可以認為是回焦點在近處的答一個望遠鏡，但是因為焦點在近處，物鏡的成像性質又發生了一些變化，因此顯微鏡的倍數都比較大。

所以你只需要把物鏡改成短焦的就可以。

參照這是自製顯微鏡的結構，其實確實和望遠鏡差不多：http://www.ytwscc.com/shi10zixianweijing.html

至於參數之類的，我感覺不重要，因為不同的參數其實主要是做出不同規格的顯微鏡，當然，消色差是嚴格計算才行的，不過那個比較復雜，估計非光學設計專業的還不會算。。。普通人去學那個也沒什麼用。

6. 大學物理實驗望遠鏡和顯微鏡的設計與組裝，求原理！！！

粗略的可以採用聚焦量距的方法測焦距
在物鏡前面加一透明刻度
再觀察一物或一標准件讀取各數據可算出了

7. 在細胞生物學的研究儀器中，有三種顯微鏡的設計或發明獲得了諾貝爾獎，它們分別是（）A．相差顯微鏡

1953-荷蘭科學家塞爾尼克因發明相位差顯微鏡獲諾貝爾物理學獎．
1986年諾貝爾物理學獎一半授予德國柏林弗利茲-哈伯學院（Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft）的恩斯特?魯斯卡（ErnstRuska，1906-1988），以表彰他在電光學領域做了基礎性工作，並設計了第一架電子顯微鏡；另一半授予瑞士魯希利康（Rüschlikon）IBM蘇黎世研究實驗室的德國物理學家賓尼希（Gerd Binnig，1947-）和瑞士物理學家羅雷爾（Heinrich Rohrer，1933-），以表彰他們設計出了掃描隧道顯微鏡．
故選：A

8. 想設計望遠鏡和顯微鏡的光路圖

上圖為開普勒望遠鏡原理光路圖。從天體射來的平行光線，經物鏡後，在焦點以外距版焦點很近處權成一倒立縮小實像a′b′。目鏡的前焦點和物鏡的焦點是重合的，所以實像a′b′位於目鏡和它的焦點之間距焦點很近的地方，目鏡以a′b′為物形成放大的虛像ab。當我們對著目鏡觀察時，進入眼睛的光線就好像是從ab射來的。顯然，圖中ab的視角β遠大於直接用眼睛觀察天體的視角a，所以，從望遠鏡中看到的天體使人覺得離自己近看得更清楚。
下圖為伽利略望遠鏡原理光路圖。作為目鏡的凸透鏡改為凹透鏡，從而使人眼睛接收到一個正立的虛像。伽利略望遠鏡是一種古老的觀劇望遠鏡。