显微物镜设计

㈠ 关于显微镜的光学设计习题

一般来说，集成电路在研制、生产和使用过程中失效不可避免，随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高，失效分析工作也显得越来越重要，通过芯片失效分析，可以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数的不匹配或设计与操作中的不当等问题。失效分析的意义主要表现具体来说，失效分析的意义主要表现在以下几个方面： 失效分析是确定芯片失效机理的必要手段。 失效分析为有效的故障诊断提供了必要的信息。 失效分析为设计工程师不断改进或者修复芯片的设计，使之与设计规范更加吻合提供必要的反馈信息。 失效分析可以评估不同测试向量的有效性，为生产测试提供必要的补充，为验证测试流程优化提供必要的信息基础。失效分析主要步骤和内容芯片开封：去除IC封胶，同时保持芯片功能的完整无损，保持 die，bond pads，bond wires乃至lead-frame不受损伤，为下一步芯片失效分析实验做准备。SEM 扫描电镜/EDX成分分析：包括材料结构分析/缺陷观察、元素组成常规微区分析、精确测量元器件尺寸等等。探针测试：以微探针快捷方便地获取IC内部电信号。镭射切割：以微激光束切断线路或芯片上层特定区域。EMMI侦测：EMMI微光显微镜是一种效率极高的失效分错析工具，提供高灵敏度非破坏性的故障定位方式，可侦测和定位非常微弱的发光（可见光及近红外光），由此捕捉各种元件缺陷或异常所产生的漏电流可见光。OBIRCH应用（镭射光束诱发阻抗值变化测试）：OBIRCH常用于芯片内部高阻抗及低阻抗分析，线路漏电路径分析。利用OBIRCH方法，可以有效地对电路中缺陷定位，如线条中的空洞、通孔下的空洞。通孔底部高阻区等，也能有效的检测短路或漏电,是发光显微技术的有力补充。
LG液晶热点侦测：利用液晶感测到IC漏电处分子排列重组，在显微镜下呈现出不同于其它区域的斑状影像，找寻在实际分析中困扰设计人员的漏电区域（超过10mA之故障点）。
定点/非定点芯片研磨：移除植于液晶驱动芯片 Pad上的金凸块， 保持Pad完好无损，以利后续分析或rebonding。
X-Ray 无损侦测：检测IC封装中的各种缺陷如层剥离、爆裂、空洞以及打线的完整性，PCB制程中可能存在的缺陷如对齐不良或桥接，开路、短路或不正常连接的缺陷，封装中的锡球完整性。

㈡ 如果显微镜在设计时,让物镜目镜都作放大镜用,也实现了两次放大.可以吗请详细回答

你画个图考虑一下，这样做的话你看的是物镜还是物像呢？

㈢ 用f=15cm平凸透镜和10X的显微物镜搭望远镜系统，不知道显微物镜的该放在哪里，才满足距离等于的焦距和

这里来面有几个问题，

第一，用显自微镜物镜当目镜效果不好，因为物镜的光学设计和目镜完全不同。当然如果只是玩玩就无所谓了；

第二，平凸透镜做物镜，透镜凸面必须向物（与图中相反），不然像差很大；

第三，F2可以按照你的式子估算，没必要太精确；

第四，F2要精确测量的话必须知道该型号物镜的光心位置，这很困难也没必要（光心在物镜内部）。因为望远镜观察不同距离的物体时，目镜和物镜的距离并非固定值（目标距离越近，目镜和物镜之间距离必须越远才能合焦），所以望远镜都有调焦机构。制作时，只要保证F2的光心大致在调焦行程之内就可以了。

最后祝你实验成功。

㈣ 显微物镜CG SV0什么意思

10X/0.25 160/0.17 40X/0.65 160/0.17 100X/1.25 160/0.17 10X:表示源该物镜的放大倍数；0.25 ：表示该物镜的数值孔径；160：表示该显微镜设计时,机械筒长为160mm；0.17 :表示用该物镜时,标本上应盖一片0.17mm厚的盖玻片.

㈤ 关于ZEMAX物镜显微物镜设计，新手看不懂图

这个就是这个物镜的详细资料呀，右边那个是zemax中的lens data数据，按图索骥输进去就可以了，左边的是一些设计指标，左下角和右下角是像差情况

㈥ 如何设计相衬显微物镜的英文是什么

其实相衬显微镜就是我们平时所说的相差显微镜。它是根据光线通过不同密版度的物质时，其滞权留程度不同（密度大则滞留时间长）的原理设计的。相差显微镜，可以将这种光程差或相位差，转换成振幅差，增强对比度。它与普通光学显微镜最主要的不同点是在物镜后装有一块相差板，由于相差板上部分区域有吸光物质，通过其的偏转光线之间又增加了新的光程差，从而对样品不同密度造成的相位差起了“夸大”作用。最后两组光线通过透镜会聚成一束，发生相互叠加或抵消的干涉现象，从而表现出肉眼明显可见的明暗差别。由于反差是以样品的密度差别为基础形成的，故相差显微镜的样品不需染色，可观察活细胞，甚至研究细胞核、线粒体等细胞器的动态。

㈦ 显微镜的目镜视场数和物镜的视场数是样定义的呢有什么区别

说说我了解的。
1，不错，视场数确实是国外的说法，即Field Number（简写为F.N.）国内从前没有这个提法，所以1楼的朋友提到在国家标准里查不到。
2，一般来说，F.N.特指目镜，而非物镜。所以我们可以在目镜看到F.N.=22等等，意指目镜的视场直径为22mm。
3，对于物镜，在国外文献中，一般提到视场，均指其像方视场——实际上就是目镜的物方视场——有时我们也称之为“中间像面视场”。所以，从这个意义上讲，有的文献提到显微镜往往不加区分的写出F.N.其实是指中间像面而言。
4，不是说物镜就没有视场的限制，而是由于一般设计物镜也是按着将要匹配的中间像视场来设计的，那么整个显微镜系统物方视场究竟是什么呢？F.N.除以物镜放大率是也。这个商值是我们真正通过显微镜能观察的范围，就是观察对象的视场直径。比如，F.N.=22，40×物镜，那么实际观察范围（物镜物方视场）=22/40=0.55mm.

另外，需要说明的是，根据我的调查Nikon、Olympus等厂家所谓的视场数(Field Number，F.N.)是日系厂商习惯的说法，而这个像方视场在Zeiss和Leica等德系厂家的说明书中被直接称为视场（Field of View），这很容易和物镜的物方视场相混淆。（这一点，我在我的硕士论文里有提及。）并且，很多国内翻译的文献，经常会有混淆。更难怪乎楼主会有疑问了，你问对人了。

㈧ 求帮忙设计一个无限远共轭距的显微物镜，要求在问题补充里，O(∩_∩)O谢谢

要求是挺明确的，但是十个财富币就要完成这么个设计有点不可能啊。
现在光学设计师在外面接私活做案子收费都不低。

㈨ 在光学设计中显微镜的物镜焦距是指第一个面的物方焦距吗

物镜焦距可以说是物方焦距，但没有说成第一个面的物方焦距，你是不是想说第一面到焦点的距离？